深圳市方技儀器有限公司

  臺式XRF射線熒光分析儀X-Strata920

概述：

深圳市方源儀器有限公司—英國牛津儀器指定中國總代理商!XRF射線熒光分析儀X-Strata920 是一款低成本高效率、快速可靠的鍍層厚度測量及材料分析設備。利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質量控制。

X-Strata鍍層測厚儀是結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。

X-Strata920 在工業(yè)領域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出卓越的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。

X-Strata920 為這些行業(yè)提供了：

以更有效的過程控制來提高生產(chǎn)力

有助電鍍過程中的生產(chǎn)成本最小化、產(chǎn)量最大化

快速無損地分析珠寶及其他合金

快速分析多達4層鍍層

操作簡單，只需要簡單的培訓

無損分析：無需樣品制備

經(jīng)行業(yè)認證的技術和可靠性，確保每年都帶來收益

分析只需三步驟

杰出的分析準確性和精確性

在鍍層測厚領域擁有超過20年的豐富經(jīng)驗

鍍層測厚儀X-Strata系列使用功能強大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量，保證質量的同時降低成本。

卓越的性能：

快速、精確的分析：大面積正比計數(shù)探測器和牛津儀器50瓦微聚焦X射線光管（X射線光束強度大、斑點小，樣品激發(fā)佳）相結合，提供最佳靈敏度

簡單的元素區(qū)分：通過次級射線濾波器分離元素的重疊光譜

性能優(yōu)化，可分析的元素范圍大：X-Strata920 預置800多種容易選擇的應用參數(shù)/方法

卓越的長期穩(wěn)定性：

自動熱補償功能測量儀器溫度變化并做修正，確保穩(wěn)定的測試結果

例行進行簡單快 速的波譜校 準，可自 動檢查儀器性能（例如靈敏性）并進行必要的修正

堅固耐用的設計

可在實驗室或生產(chǎn)線上操作

堅固的工業(yè)設計

運用領域行業(yè)：

電子行業(yè)

電子、電氣原件
有效控制生產(chǎn)過程，提高生產(chǎn)力

確保元件可靠性

同時測量焊料合金成份和鍍層厚度

優(yōu)化質量控制，確保產(chǎn)品生命期
例如：

分析導電性鍍層金和鈀的厚度

測量電腦硬盤上的NiP層厚度

五金電鍍行業(yè)

電鍍處理的成本最小化，產(chǎn)量最大化

快速簡單的分析

同時進行單層或多層鍍層厚度測量及成份分析

最多可分析4層鍍層

鍍液成份分析

金屬合金行業(yè)

金屬合金成份分析和牌號認定
珠寶及其他合金的快速無損分析

貴金屬合金分析

黃金純度分析

材料鑒定

產(chǎn)品技術參數(shù)：

三種配置選項

固定樣品臺

樣品臺位置固定

經(jīng)濟、實用

平面樣品臺設計，適合高
度不超過1.3"(33mm)的樣
品分析

加深樣品臺

高度每英寸(25.4mm)可
調，架構式樣品艙可容納
最大高度6.3"(160mm)的
樣品

程控樣品臺

用于自動化測量

方便根據(jù)測試位置放置樣品，
并精準定位測量點

樣品臺尺寸：22"(D) x 24"(w)，即560mm (深) x 610mm (寬)

程控臺移動距離：7" x 7"，
即178mm x 178mm

更多參數(shù)請來電咨詢！