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[供應]泰勒-霍普森非接觸式輪廓儀
- 產品產地：
- 產品品牌：
- 包裝規格：
- 產品數量：10000
- 計量單位：臺
- 產品單價：600
- 更新日期：2016-06-04 19:53:29
- 有效期至：2017-06-04
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泰勒-霍普森非接觸式輪廓儀
詳細信息
一、儀器特點：
1.泰勒-霍普森非接觸式輪廓儀CCI MP是一種高級的測量干涉儀（非接觸式3D輪廓儀）。它采用享有專利的新型關聯算法，來查找由我們的精密光學掃描裝置產生的干涉圖的相干峰和相位。
2.CCI MP對于很多需要進行高精度3D輪廓分析的應用非常有用。轉臺上可以同步裝配各種各樣的標的物，因而可測量多種類型的表面。全自動的工作臺和自動測量程序進一步增強了測量的靈活性。
3.泰勒-霍普森非接觸式輪廓儀CCIMP具有功能多、用途廣的優點。反射率為0.3%至100%的拋光表面、粗糙表面、曲面、平面或臺階面，都能使用一種算法進行測量，不需要為不同的表面改變模式，也不用擔心會選擇錯誤的模式。可測量的材料類型包括：玻璃、液體墨水、光刻膠、金屬、聚合物和糊劑。
二、儀器技術參數：
1.1048x1048像素陣列，視場廣，高分辨率
2.經過改良的新型X、Y、Z拼接，量程多達100毫米
3.RMS重復精度<0.2埃，階躍高度重復精度<0.1%
4.全量程埃級分辨率
5.多語言版本的Windows7，64位軟件
三、CCI光學裝置：
無論對分析速度的要求有多高，創新的CCI光學裝置非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析。
CCI光學裝置與光學研究人員和科學家的專業知識保持與時俱進，能滿足光學領域的嚴苛測量要求。CCI光學裝置將強大的尺寸及粗糙度分析軟件與無與倫比的工程設計融于一體，是一種非常適合用于粗糙度測量的檢驗工具。CCI獨特的薄膜厚度測量功能，進一步完善了為光學工業而設計的出色計量包裝。
1.2048x2048像素陣列，視場廣，高分辨率
2.全量程0.1埃的分辨率
3.輕松測量反射率為0.3%-100%的各種表面
4.RMS重復精度<0.2埃，階躍高度重復精度<0.1%
5.多語言版本的64位控制和分析軟件
更多泰勒輪廓儀產品詳見：risechinash/ranchao-Products-16268783/
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