深圳市宏標(biāo)科技有限公司

紹興IK指數(shù)測試IK08測試IK09測試 

IK代碼
本 標(biāo) 準(zhǔn) 適用于額定電壓不超過72.5 k V的電器設(shè)備外殼對(duì)外界機(jī)械碰撞的防護(hù)分級(jí)。
本 標(biāo) 準(zhǔn) 僅適用于對(duì)外界機(jī)械碰撞防護(hù)分級(jí)有專門要求的外殼
本 標(biāo) 準(zhǔn) 的目的是規(guī)定:
a) 電 器設(shè)備外殼為保護(hù)內(nèi)部設(shè)備因受到機(jī)械碰撞而產(chǎn)生有害影響所具備的防護(hù)等級(jí)的定義
b) 防 護(hù)等級(jí)的標(biāo)志
C) 每 種 標(biāo)志的要求
d) 為 確認(rèn)外殼是否符合本標(biāo)準(zhǔn)的要求而應(yīng)進(jìn)行的試驗(yàn)。
各 技 術(shù) 委員會(huì)仍然有權(quán)決定在其所制定的標(biāo)準(zhǔn)中采用本分級(jí)方法的程度和方式，并對(duì)其所轄的設(shè)
備的“外殼”下定義。但對(duì)任一指定的分級(jí)，其試驗(yàn)不得與本標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定有差異。如有必要可在相應(yīng)的
產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中增加補(bǔ)充要求。
對(duì) 于 某 些特定類型的設(shè)備，在確保達(dá)到相同的安全防護(hù)等級(jí)的前提下，產(chǎn)品技術(shù)委員會(huì)可規(guī)定不同
的要求。
本 標(biāo) 準(zhǔn) 僅規(guī)定預(yù)期用途在其他任何方面均能滿足相應(yīng)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)要求的外殼，且從材料及工藝的角
度考慮，在正常的使用條件下，外殼應(yīng)確保所表明的防護(hù)等級(jí)。
本 標(biāo) 準(zhǔn) 也適用于空外殼，只要該外殼表面能符合常規(guī)試驗(yàn)要求且所選定的防護(hù)等級(jí)適用于該類設(shè)
備類型。
2 規(guī)范性引用文件
下 列 文 件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有
的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究
是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)
GB /T 2 421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分:總則(idtIEC 60068-1:1988)
GB /T 2 423.5 5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eh 錘擊試驗(yàn)(IEC
60068-2-75:1997，IEC)
IE C 60 050(826):1982 國際電工詞匯第826部分:用于建筑物的電器設(shè)備
3 定義
下列術(shù)語適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
外殼g enclosure
防止設(shè)備受到某些外部影響并在任何方向阻止接觸到設(shè)備的部件「IEV826-03-12丑
注:本定義引自現(xiàn)行國際電工詞匯【IEV ，在本標(biāo)準(zhǔn)中需作如下說明
a) 外殼對(duì)設(shè)備提供因機(jī)械碰撞而產(chǎn)生有害影響的防護(hù)
b) 阻止或限制本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試具進(jìn)人的隔板、形成孔洞或其他開口的部件，不論它是附在外殼
本 定義等同于IEC 60529:2001中3.1的定義


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