南昌星楓儀器有限公司

涂層測厚儀leeb210
覆層測厚儀采用磁性和電渦流兩種測量方法，可無損地檢測磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，以及非磁性金屬基體上非導電的絕緣覆蓋層的厚度。

涂層測厚儀leeb210技術參數：

  型號 leeb 210
測頭類型 F1
工作原理 磁感應
測量范圍 0~1000μm
低限分辨率 0.1μm
一點校準 ±（3%H+1）
二點校準 ±[（1~3%)H+1]
最小曲率半徑mm 凸1.5
最小面積直徑mm Φ7
基本臨界厚度mm 0.5
溫度 0~40℃
濕度 20%~90%
磁場 無強磁場環境
電源 AAA型堿性電池1.5V兩節
外形尺寸 115×70×30mm（主機）
重量 130g